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条纹分析软件(Intelliwave) v1.0 免费版

  • 软件语言:简体中文
  • 软件类型:国产软件
  • 软件大小:1 KB
  • 软件等级:3星级
  • 相关链接:Home Page
  • 软件授权:免费版
运行环境:WinXP/Vista/Win7/8/10
更新时间:2018-01-02 11:36:55
有无插件:无插件,请您放心使用!

Intelliwave是一种功能强大的用于干涉图形攫取和分析的软件,通常用于量测许多表面(材料)的外形(或是其他特性),包括镜子、透镜、半导体芯片、和其它许多反射或不反射的表面,本次为大家提供的是intelliwave中文版,可以在你工作的方方面面为你提供独到的帮助。

Intelliwave

特色介绍

intelliwave中文版能够很好地进行所需的各项自动化质量检测,为你带来相位测量服务,支持干涉条纹的描绘功能,能够很好地实现光程差的计算,帮助用户们应用到图像加工等众多行业带来最佳的使用体验!
为了推断镜片表面外形,Intelliwave需要制造一个光学相位差来获得干涉图形,因为干涉条纹图是干涉仪中的测试光及参考光的光程差而形成,藉着干涉图形的处理,主要在于鉴定待测光学仪器的表面外型。Intelliwave 结合了攫取、输入、分析、以及许多实际干涉图形文档等等特性,更提供了强大、快速、灵活性、容易使用、还有广泛数据信息的优点。

功能介绍

使用范围
光学统的动态控制
全像摄影
极温度( Extreme Temperature)的应用
天文上的应用 : 天文镜片、天文望远镜
对于非球状光学结构有高分辨率
在半导体上的应用
高功率激光的外型和反射特性的量测
光学量测

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